Search
Now showing items 1-1 of 1
İnce filmlerin kalınlık ve optiksel sabitlerinin bulunması
(Fen Bilimleri Enstitüsü, 2004)
Bu çalışmanın amacı ince filmlerin kalınlık, soğurma sabiti, kırılma indisi ve band aralığı enerjisi gibi optiksel özelliklerini yeni bir yöntem yardımıyla incelemektir. Bu amaçla saf a-Si:H (Hidrojenlendirilmiş amorf ...